ЕТКС № 20 часть 1, § 34. Контролер деталей и приборов

§ 34. Контролер деталей и приборов

4-й разряд

Характеристика работ. Контроль и приемка кристаллов микросхем и полупроводниковых приборов, сложных оптических деталей, узлов, микроэлементов для микромодулей специального назначения, деталей и готовых изделий. Проверка качества сложных соединений. Применение точного контрольно-измерительного инструмента, оптических приборов, различных испытательных схем, самостоятельная их настройка. Проведение лабораторных контрольных испытаний. Выборочное прокаливание пластин искусственного пьезокварца. Проверка качества приборов с классификацией по видам брака (до 20 видов). Проверка соответствия фотошаблонов топологическому чертежу, чистоты поля фотошаблона (процент дефектных модулей), замер критических размеров элементов. Анализ ИЭТ, забракованных в производстве и отказавших при испытаниях и на этапе эксплуатации. Измерение электрических параметров терморезисторов, катушек индуктивности, конденсаторов, диодов. Подготовка заключений о качестве сырья и материалов. Оформление приемки и сдачи партии, составление документов и протоколов контроля, оформление документов по рассмотрению рекламации.

Должен знать: требования к технологической документации и приемке сложных деталей, узлов, приборов, кристаллов микросхем, микроэлементам для микромодулей специального назначения; устройство, назначение и условия применения контрольно-измерительных инструментов, приборов, микроскопов и аппаратуры, испытательных схем; систему допусков к посадок, степень точности и параметры шероховатости; методы и способы контроля сложных узлов изделий различного назначения; методы различных расчетов и вычислений; способы определения процента выхода моноблоков в пьезотехническом производстве; методы анализа, порядок рассмотрения рекламаций и оформление соответствующих документов; способы прокаливания искусственного пьезокварца, правила эксплуатации муфельной электрической печи; способы хранения микроэлементов; основные причины брака, меры его предупреждения и устранения; правила оформления соответствующей документации на результаты контроля и приемки изделий.

Примеры работ

1. Баллоны и ножки ПУЛ, ЛБВ и клистроны - контроль.

2. Блоки рентгенотелевизионного микроскопа - проверка на прочность; блоки питания для ЭВМ - контроль по параметрам.

3. БИС - контроль по внешнему виду качества фотолитографии; составление карты годности кристаллов на пластине.

4. Блоки катодные - проверка центровки на микроскопе БМИ.

5. Блоки ТКЛ и МКЛ катодные, анодно-сетчатые - контроль.

6. Выпрямители селеновые и купроксные - окончательная приемка.

7. Вилки и розетки штепсельные - контроль электропрочности и электропараметров.

8. Герконы, детали герконов - контроль внешнего вида с применением оптических приборов; анализ брака; измерение толщины покрытия.

9. ГИМ СВЧ - контроль корпусов, оснований и др. узлов с применением оптических приборов.

10. Датчики ДПУ и ВКГ - контроль.

11. Датчики МИС-10, МИС-11 - контроль плат с помощью универсального инструмента в соответствии с чертежами и ТУ.

12. Детали и узлы внутренней арматуры ПУЛ, генераторные и особо надежная серия ламп, детали оболочки цветного кинескопа - контроль.

13. Детали сложные после механической обработка (штоки, волноводы, переходы волноводные, наконечники полюсные и др.) с большим количеством отверстий и высокой чистотой обработки, детали металлические после отжига, химической полировки - контроль.

14. Детали ЭВП - окончательная приемка и контроль.

15. Детали керамические - контроль под микроскопом.

16. Детали установочной керамики различной конфигурации - контроль геометрических размеров с применением оптических приборов.

17. Детали ферритовые - проверка качества, коэффициента усадки.

18. Детали цифровых индикаторов - контроль на короткое замыкание и величины сопротивления.

19. Заготовки пьезокварца, водорастворимых кристаллов и пьезорезонаторы - контроль по механическим и различным электрическим параметрам.

20. Заготовки для фотошаблонов металлизированные - измерение толщины маскирующего покрытия.

21. Изделия керамические - контроль диэлектрических характеристик.

22. Индикатор вакуумный люминесцентный микроразрядный и цифровой - контроль внешнего вида и габаритов.

23. Изделия из ферритов и магнитодиэлектриков - проведение приемо-сдаточных испытаний в соответствии с ГОСТом, ОСТом, ТУ.

24. Катоды синтезированные, оксидированные (пористые, губчатые, рамочные), катоды косвенного накала ТКЛ - контроль.

25. Кварцедержатели пластмассовые, герметизированные, вакуумные, прецизионные, ультрапрецизионные третьего поколения и пьезосистемы - контроль качества согласно чертежам.

26. Кенотроны высоковольтные и среднегенераторные приборы - контроль.

27. Кинескопы - контроль внешнего вида.

28. Колбы электровакуумных приборов, весовое стекло, заготовки, тарелочки - визуальный контроль, учет и анализ брака.

29. Контакты и пружины штепсельных разъемов - проверка по контуру на проекторе.

30. Кристаллы сегнетовой соли, кристаллы кварца - приемка искусственно выращенных кристаллов.

31. Конденсаторы всех типов - проведение приемо-сдаточных испытаний.

32. Контакты магнитоуправляемые - контроль внешнего вида, контроль на наличие посторонних частиц под микроскопом.

33. Конус цветного кинескопа с нанесенной эмалью - проверка качества.

34. Лампы приемно-усилительные, металлические, пальчиковые, стеклянные - контроль собранных ножек, блоков и пакетов, контроль внешнего вида и габаритов; измерение емкостей (межэлектродных расстояний).

35. Лампы накаливания особой серии высокой надежности - приемка и контроль по всем параметрам в соответствии с особыми требованиями.

36. Лампы стержневой и рамочной конструкции - проведение СРТП.

37. Лампы-фары - определение давления газа; определение точки росы водорода; контроль и приемка в соответствии с чертежами и ТУ.

38. Матрицы памяти - контроль и расчет допустимого сопротивления полуобмоток.

39. Микросхемы, СВЧ-транзисторы, диодные и транзисторные матрицы - контроль внешнего вида, габаритных размеров.

40. Микросхемы СВЧ после гальванического покрытия - контроль по внешнему виду и толщины покрытия с применением оптических приборов.

41. Монтаж печатный - контроль наличия коротких замыканий и обрывов.

42. Ножки плоские электровакуумных приборов - контроль после штамповки и травления с помощью полярископа и других инструментов.

43. Оправка для сборки ТКЛ - контроль.

44. Партии радиодеталей опытные - контроль и проверка по всем электрическим параметрам.

45. Панели ламповые, переключатели, тумблеры ТВ и ТП, микропереключатели и микротумблеры - контроль деталей после прессования, предъявляемых представителю заказчика; контроль сборки изделий, предъявляемых представителю заказчика, контроль по электропараметрам на электроустановках (наличие контакта, переходного сопротивления, электропрочности, сопротивления изоляции, время срабатывания, рабочего хода, дополнительного и дифференциального ходов) изделий, предъявляемых представителям заказчика.

46. Платы, оси в сборе, втулки, крышки изделия ПГ2-7 микросхемы СВЧ - проверка после прессования; изделия ПТ6 и ПТЗ -контроль сборки, усилия переключения, омического сопротивления, замкнутых пар, электрической прочности изоляции и сопротивления изоляции.

47. Платы печатные - контрольное измерение "прозвонка" согласно требованиям ТУ.

48. Пластины затравочные всех типов и срезов - окончательная приемка шлифовки и сверления и оформление документов.

49. Пластины кремния - контроль толщины после шлифовки, контроль качества фотолитографии с применением контрольно-измерительных средств и оптических приборов.

50. Пластины памяти - контроль омического сопротивления полуобмоток.

51. Пластины МИС, кристаллы - выявление брака; контроль по внешнему виду.

52. Пластины стеклянные, индикаторы жидкокристаллические - контроль геометрических размеров с применением оптических приборов.

53. Подогреватели, катоды, детали, покрытые коллоидно-графитовым препаратом - контроль по внешнему виду и геометрическим размерам с применением проектора, микроскопа, МБС и МОСТА постоянного тока.

54. Приборы МКЛ и ТКЛ, приборы полупроводниковые особых серий, высокой надежности, приборы в тропическом исполнении и с особыми условиями приемки - контроль внешнего вида; контроль по всем параметрам; контроль упаковки и сопроводительной документации.

55. Приборы, различные узлы - контроль после сборки, заварки, откачки, распыления газопоглотителей; окончательная приемка и контроль по всем параметрам.

56. Призмы, линзы, пластины - контроль.

57. Приборы генераторные различной мощности, мощные игнитроны с ртутным наполнением, тиратроны, газоразрядные приборы, высоковольтные кенотроны СВЧ - контроль узлов с применением универсального инструмента.

58. Приборы электровакуумные сверхминиатюрные повышенной надежности - контроль внешнего вида.

59. Приборы бескорпусные - контроль защитных покрытий до упаковки в тару и упакованных в тару.

60. Проволока различных диаметров, в том числе из тугоплавких металлов и их сплавов, тонкие сорта - контроль после волочения, отжига, металлизации, травления, никелирования и гальванического покрытия методом взвешивания на торзионных весах; внешнего вида поверхности визуально и под микроскопом; геометрических размеров с применением специального и универсального измерительного инструмента; механических и электрических свойств.

61. Пьезорезонаторы кварцевые - операционная приемка по ТКЧ и частоте.

62. Радиолампы, волноводные переходы, высокочастотные тракты, трансформаторы импульсные силовые - проверка по ТУ.

63. Светильники - приемо-сдаточные испытания.

64. Сетки ППУЛ и МПУЛ, СПУЛ, титанокерамические - контроль основных параметров.

65. Сетки и внутренняя арматура - центровка при помощи микроскопа и проектора; контроль.

66. Спаи вакуумные - контроль под микроскопом БМ после штамповки, высокочастотной пайки и химической обработки.

67. Спирали линии замедления - контроль шага и диаметра на микроскопе, оптическим методом на установке измерения микроструктур.

68. Схемы печатные - контроль после травления; окончательная приемка с проверкой электрических параметров.

69. Схемы интегральные (1У степени интеграции) - определение видов брака; контроль электрических параметров; отбор ИС на все виды испытаний.

70. Транзисторы, теристоры, оптроны - контроль и приемка по ТУ.

71. Трансформаторы и дроссели - контроль электропараметров.

72. Транзисторы и микросхема среднего уровня интеграции - вскрытие корпусов приборов и локализация дефектных узлов и элементов под микроскопом.

73. Трубки кварцевые, ситалловые и керамические стержни - контроль по внешнему виду с применением микроскопа.

74. Трубки электроннолучевые (однолучевые) - контроль собранных арматур и ножек.

75. Трубки электроннолучевые (скиатроны) - контроль после заварки, откачки, цоколевания.

76. Узлы модульные - контроль с применением оптических и контрольно-измерительных приборов.

77. Фотооригиналы промежуточные - аттестация линейных размеров на УИМ-21.

78. Фотошаблоны пленочные - контроль.

79. Экраны - контроль качества покрытия и качества стекла.

80. Элементы памяти на ферритовых изделиях и пленках - контроль геометрических размеров изделий различной конфигурации; контроль электрического монтажа сложных изделий; проверка сопротивления полуобмоток, обмоток считывания и запрета, проверка работоспособности несложных видов матриц.