ЕТКС № 20 часть 1, § 19. Измеритель электрофизических параметров изделий электронной техники

§ 19. Измеритель электрофизических параметров изделий электронной техники

4-й разряд

Характеристика работ. Измерение температурной стабильности, температурного коэффициента и других электрических параметров радиодеталей. Измерение электрических параметров конденсаторов на электропрочность между выводами, сопротивления изоляции между выводами, на классы точности по емкости измеряемых конденсаторов. Измерение электрических и электромагнитных параметров матриц и дешифраторов. Измерение удельных сопротивлений полупроводниковых материалов, эпитаксиальных структур и поверхностного сопротивления поликристаллических слоев 4-зондовым методом. Определение скорости травления диэлектрических слоев, типа проводимости структур, зависимости емкостей и удельных сопротивлений от температуры. Определение плотности дислокации структурных дефектов на металлографических микросхемах и однородности распределения плотности по эталонам. Контроль статических параметров, контроль тестов на функционирование микросхем со степенью интеграции менее 100 эл/кв.мм. Проверка всех схем микромодулей по картам сопротивлений, напряжений и электрических параметров в нормальных условиях и при крайних значениях температур в камерах тепла и холода на соответствие требованиям ТУ. Запитка напряжением различных микромодулей, установленных на стендах. Проверка по электрическим параметрам и электрической прочности блоков селеновых выпрямителей, измерение селеновых элементов по электрическим параметрам для модуляторов и изделий специального назначения. Вычисление электрических параметров по формулам и измерение их на приборах. Подготовка и настройка установок, стендов и приборов к работе с последующей настройкой по эталонным пластинам. Проверка правильности показаний приборов и регулировка приборов в процессе работы.

Должен знать: устройство, принципиальные схемы, принцип действия и способы проверки на точность обслуживаемого оборудования и приборов; устройство, назначение и условия применения контрольно-измерительных приборов; электрические характеристики измеряемых изделий; способы настройки, регулировки и устранения мелких неисправностей приборов и автоматов; методы расчетов температурного коэффициента емкости; методы расчетов измерения емкости после воздействия влаги, нагрузки, холода; основы теории электротехники и радиотехники; назначение полупроводниковых материалов и эпитаксиальных структур и их свойства; методы расчета величины тока смещения.

Примеры работ

1. Блоки питания ЭКВМ - проверка по всем параметрам.

2. Диски пьезокерамические - измерение и расчет пьезомодуля Д31 емкости и тангенса угла диэлектрических потерь.

3. Изделия из ферритов - измерение импульсных температурных характеристик; измерение магнитной проницаемости на массовых схемах.

4. Конденсаторы и резисторы - измерение температурных коэффициентов, измерение минимальной и максимальной емкости, измерение и вычисление измерения емкости после воздействия влаги, нагрузки и холода.

5. Матрицы - измерение по электромагнитным параметрам с плотностью от 100 до 200 чисел на 1 кв.м с шагом 1-1,5 мм.

6. Монокристаллический кремний и германий - измерение удельного сопротивления 4-зондовым методом; определение плотности дислокации; изготовление омических контактов для измерения времени жизни методом модуляции проводимости в точечном контакте.

7. МПП с количеством точек до 3000 - проверка схемы на установке УКП.

8. Пластины памяти и пластины дешифраторов для кубов памяти - измерение электромагнитных параметров; нанесение микрообмотки на матрицы и дешифраторы; нанесение флюсов на выводы пластин; расчет длительности импульса и его амплитуды по показателям осциллографа.

9. Пластины, квадраты, кольца - измерение и расчет электрических параметров.

10. Пластины полупроводниковые - замер неплоскостности на установках типа 6019 с выводом значений на дисплей.

11. Платы печатного монтажа - контроль на короткое замыкание омического сопротивления, целостности цепи тестером и на прозвоночной станции.

12. Секции накопителей памяти - измерение и сортировка по электрическим параметрам.

13. Селеновые выпрямители специального назначения - измерение электрических параметров.

14. Слои и платы (МПП) - проверка на целостность цепей, на отсутствие короткого замыкания, проверка сопротивления изоляции.

15. Слои структур арсенида галлия - измерение толщины методом декорирования анодным окислением в ультрафиолетовом свете.

16. Ферриты - измерение СВЧ характеристик на специальных стендах; измерение температурного коэффициента; вычисление электрических параметров по формулам и измерение их на приборе.

17. Фоторезисторы - измерение ЭДС шумов.

18. Электронные часы - настройка частоты генератора, проверка функциональных параметров.